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" " CNS 標準清單
C-電機工程, 電子工程
CNS 11829:2017
- 英文版
發光二極體(指示用)
Light Emitting Diodes (for Indication)
- English Version
P-紙業
CNS 12886-1:2017
- 英文版
紙及紙板加速老化試驗法─120℃或150℃乾熱處理
Method of Test for Accelerated Aging of Paper and Paperboard - Dry Heat Treatment at 120℃ or 150℃
- English Version
已翻譯
B-機械工程
CNS 13495:2017
- 英文版
立式切削中心機動態檢驗法
Test Code for Performance of Machining Centers (Vertical Type)
- English Version
C-電機工程, 電子工程
CNS 409:2017
- 英文版
儀器用互感器符號
Symbols of Transformers for Instrument
- English Version
C-電機工程, 電子工程
CNS 11705:2017
- 英文版
光纖組件檢驗法(透射率改變FOTP–20)
Method of Test for Fiber Devices (FOTP-20 Change of Optical Transmittance)
- English Version
C-電機工程, 電子工程
CNS 11874:2017
- 英文版
雲母固定電容器(CM35型)
Fixed Mica Capacitors ( Type CM 35 )
- English Version
K-化學工業
CNS 13590:2017
- 英文版
塑膠燃燒性試驗法–氧指數法
Method of Test for Plastic Flammability - Oxygen Index Method
- English Version
已翻譯
C-電機工程, 電子工程
CNS 11902:2017
- 英文版
光纖裝置檢驗法(溫度變化對光纖衰減之影響FOTP–52)
Method of Test for Fiber Optic Devices (FOTP-52 Temperature Dependence of Attenuation for Optical Fibers)
- English Version
C-電機工程, 電子工程
CNS 13623:2017
- 英文版
單晶片之電阻率、霍爾係數及霍爾移動率之測定法(范德普法)
Test Methods for Measuring Resistivity,Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Single-Crystal Semiconductors(Van Der Pauw Method)
- English Version
B-機械工程
CNS 5672:2017
- 英文版
銑刀心軸端軸環
Arbor End Collars for Milling Machines
- English Version
K-化學工業
CNS 11582:2017
- 英文版
環氧樹脂非鋅底漆檢驗法
Method of Test for Epoxy Resin Non-Zinc Primer
- English Version
M-礦業
CNS 5376-12:2017
- 英文版
鐵礦石-鈦定量法
Iron ores—Method for determination of titanium content
- English Version
C-電機工程, 電子工程
CNS 13806:2017
- 英文版
發光二極體磊晶片發光波長與亮度量測法
Method of Measurement for Emission Wavelength and Luminous Intensity of Epitaxial Wafers of Light Emitting Diodes
- English Version
G-鐵金屬冶煉
CNS 14291:2017
- 英文版
金屬材料拉伸潛變破斷試驗法
Method of tensile creep rupture test for metallic materials
- English Version
C-電機工程, 電子工程
CNS 13781:2017
- 英文版
自動控制用紅外發光二極體耐久性試驗法–預燒試驗(順向偏壓)
Endurance Testing Methods for Infrared Emitting Diodes (for Automation)-Burn-In Test (Forward Bias)
- English Version
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