" " CNS 標準清單

CNS 12372:2017 - 英文版
光纖裝置檢驗法（多模斜射率光纖或光纖組件在長距離通訊系統中衰減量之替代量測法ＦＯＴＰ–５３）
Method of Test for Fiber Optic Devices ( FOTP-53 Attenuation by Substitution Measurement for Multimode Graded-Index Optical Fibers or Fiber Assemblies Used in Long Length Communications System) - English Version

CNS 6834-4:2017 - 英文版
橡膠管及塑膠管試驗法－第4部：低溫撓曲性試驗
Testing methods for rubber and plastics hoses - Part 4: Sub-ambient temperature flexibility tests - English Version

CNS 6772:2017 - 英文版
絕緣瓷器試驗法
Methods of Test for Insulating Porcelains - English Version

CNS 9243:2017 - 英文版
頻率３ＭＨｚ以下電連接器檢驗法（彎曲試驗ＴＰ–４３）
Method of Test for Low Frequency(Below 3 MHz) Electrical Connectors(TP - 43 Cable Clamping (Bending Moment)) - English Version

CNS 15995:2017 - 英文版
2.5 MPa以下液相或氣相液化石油氣 (LPG)及天然氣用橡膠管及橡膠管組合件
Rubber hoses and hose assemblies for liquefied petroleum gas (LPG) in the liquid or gaseous phase and natural gas up to 25 bar (2.5 MPa) - English Version

CNS 16011-1:2017 - 英文版
工具機－主軸鼻端及工件夾持夾頭之連接尺度－第1部：圓錐連接
Machine tools ? Connecting dimensions of spindle noses and work holding chucks ? Part 1: Conical connection - English Version

CNS 12865-2:2017 - 英文版
數位微電子檢驗法（低位準輸出電壓）
Method of Test for Digital Microelectronics ( Low Level Output Voltage ) - English Version

CNS 5963:2017 - 英文版
青銅螺紋口球形閥（10 kgf/?）
Bronze Screwed Globe Valves (10kgf/c㎡) - English Version

CNS 3714:2017 - 英文版
手提型頭髮吹風機
Hand-Supported Hair Dryers - English Version

已翻譯

CNS 13192:2017 - 英文版
帶鋸片伸整機之性能試驗及精度檢驗法
Test Methods for Performance and Accuracy of Band Saw Stretchers - English Version

CNS 5376-1:2017 - 英文版
鐵礦石—鈉定量法
Iron ores —Methods for determination of sodium content - English Version

CNS 1024:2017 - 英文版
十字鎬檢驗標準
Testing Standard for Picks - English Version

CNS 15562-6:2017 - 英文版
固定式訓練設備－第6部：跑步機－附加之特定安全要求與試驗法
Stationary training equipment ? Part 6: Treadmills ? Additional specific safety requirements and test methods - English Version

CNS 14555:2017 - 英文版
道路用發光二極體文字顯示型交通資訊看板
Road traffic LED display panel - English Version

CNS 12865-10:2017 - 英文版
數位微電子檢驗法（功能測試）
Method of Test for Digital Microelectronics (Functional Testing) - English Version

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