"M " CNS 標準清單

CNS 5376-2:2017 - 英文版
鐵礦石—鉀定量法
Iron ores—Method for determination of postassium content - English Version

CNS 12867:2017 - 英文版
環境試驗法（電氣、電子）–高溫／低氣壓複合試驗法
Basic Environmental Testing Procedures Part 2 : Tests-Test Z/AM : Combined Dry Heat/Low Air Pressure Tests - English Version

C-電機工程, 電子工程

CNS 3908:2017 - 英文版
配線器具之試驗法
Method of Test for Wiring Devices - English Version

B-機械工程

CNS 539:2017 - 英文版
公制螺紋活動量規（檢驗通過端及不通過端樣圈，精配，中配及粗配）
Adjustable Plug Gauge for Metric Thread (for Testing of Go and No Go Ring Gauge,Fine, Medium and Coarse Fits) - English Version

B-機械工程

CNS 5672:2017 - 英文版
銑刀心軸端軸環
Arbor End Collars for Milling Machines - English Version

C-電機工程, 電子工程

CNS 11705:2017 - 英文版
光纖組件檢驗法（透射率改變ＦＯＴＰ–２０）
Method of Test for Fiber Devices (FOTP-20 Change of Optical Transmittance) - English Version

K-化學工業

CNS 13590:2017 - 英文版
塑膠燃燒性試驗法–氧指數法
Method of Test for Plastic Flammability - Oxygen Index Method - English Version

已翻譯

C-電機工程, 電子工程

CNS 13806:2017 - 英文版
發光二極體磊晶片發光波長與亮度量測法
Method of Measurement for Emission Wavelength and Luminous Intensity of Epitaxial Wafers of Light Emitting Diodes - English Version

B-機械工程

CNS 9475:2017 - 英文版
數值控制立式六角及單軸鑽床動態檢驗法
Test Code for Performance of Numerically Controlled Turret and Single Spindle Drilling Machines with Vertical Spindle - English Version

G-鐵金屬冶煉

CNS 11107:2017 - 英文版
中、常溫壓力容器用高強度鋼板
High Strength Steel Plates for Pressure Vessels for Intermediate and Moderate Temperature Service - English Version

B-機械工程

CNS 13495:2017 - 英文版
立式切削中心機動態檢驗法
Test Code for Performance of Machining Centers (Vertical Type) - English Version

C-電機工程, 電子工程

CNS 11902:2017 - 英文版
光纖裝置檢驗法（溫度變化對光纖衰減之影響ＦＯＴＰ–５２）
Method of Test for Fiber Optic Devices (FOTP-52 Temperature Dependence of Attenuation for Optical Fibers) - English Version

B-機械工程

CNS 125:2017 - 英文版
工具圓錐（莫氏圓錐０–６及公制圓錐８０–２００）（有扁頭）
Morse Taper for Tools, 0-6, Metric Taper 80-200 (with Flat End) - English Version

B-機械工程

CNS 3613:2017 - 英文版
兩刃圓錐柄端銑刀
Two-Flute End Mills with Taper Shank - English Version

已翻譯

C-電機工程, 電子工程

CNS 11829:2017 - 英文版
發光二極體(指示用)
Light Emitting Diodes (for Indication) - English Version

B-機械工程

CNS 13374:2017 - 英文版
限界量規之公差、許可差及容許磨耗
Tolerances, Allowable Deviations and Permissible Wears of Limit Gauges - English Version

Z1-工業安全

CNS 1325:2017 - 英文版
液氨鋼瓶安全規章
Safety Code for Steel Cylinder of Liquid Ammoniia - English Version

已翻譯

N-農業,食品

CNS 15091-17:2017 - 英文版
深層海水檢驗法－總有機碳之測定
Method of test for deep sea water - Determination of total organic carbon - English Version

B-機械工程

CNS 1192:2017 - 英文版
銅工用扁平銼
Flat File for Tinman - English Version

已翻譯

B-機械工程

CNS 9968:2017 - 英文版
工具機用鑽頭夾頭檢驗法
Method of Test for Drill Chuck for Machine Tools - English Version

C-電機工程, 電子工程

CNS 11874:2017 - 英文版
雲母固定電容器（ＣＭ３５型）
Fixed Mica Capacitors ( Type CM 35 ) - English Version

C-電機工程, 電子工程

CNS 409:2017 - 英文版
儀器用互感器符號
Symbols of Transformers for Instrument - English Version

K-化學工業

CNS 15832-2-2:2017 - 英文版
塗料成分試驗法－第2-2部：溶劑可溶物中成分分析－軟化點(環與球法)
Method of test for coating components ? Part 2-2: Component analysis in solvent soluble matter ? Softening point (Ring-and-ball method) - English Version

N-農業,食品

CNS 15091-15:2017 - 英文版
深層海水檢驗法－亞硝酸鹽之測定
Method of test for deep sea water - Determination of nitrite - English Version

L-紡織工業

CNS 9308:2017 - 英文版
耐煮呢處理染色堅牢度試驗法
Method of test for colour fastness to potting - English Version

P-紙業

CNS 12886-1:2017 - 英文版
紙及紙板加速老化試驗法─120℃或150℃乾熱處理
Method of Test for Accelerated Aging of Paper and Paperboard - Dry Heat Treatment at 120℃ or 150℃ - English Version

已翻譯

P-紙業

CNS 13394:2017 - 英文版
紙漿黏度試驗法（落球法）
Method of Test for Viscosity of Pulp (Falling Ball Method) - English Version

已翻譯

C-電機工程, 電子工程

CNS 5747:2017 - 英文版
電機機械及裝置用橡膠絕緣引出線
Rubber insulated lead wires for electric machinery and apparatus - English Version

C-電機工程, 電子工程

CNS 12711:2017 - 英文版
使用印刷電路板用頻率３ＭＨｚ以下連接器之微處理機系統之接?配置
Pilots for Stamping Work - English Version

C-電機工程, 電子工程

CNS 13623:2017 - 英文版
單晶片之電阻率、霍爾係數及霍爾移動率之測定法（范德普法）
Test Methods for Measuring Resistivity,Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Single-Crystal Semiconductors(Van Der Pauw Method) - English Version

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